金相學主要指借助光學(金相)顯微鏡和體視顯微鏡等對材料顯微組織、低倍組織和斷口組織等進行分析研究和表征的材料學科分支，既包含材料顯微組織的成像及其定性、定量表征，亦包含必要的樣品制備、準備和取樣方法。其主要反映和表征構成材料的相和組織組成物、晶粒(亦包括可能存在的亞晶)、非金屬夾雜物乃至某些晶體缺陷(例如位錯)的數量、形貌、大小、分布、取向、空間排布狀態等。其主要由光學系統、照明系統和機械系統三部分組成，其中由光源、反光鏡、物鏡組、目鏡和多組聚光鏡組組成光學系統;底座上低壓燈泡(為提高光源可靠性現多用冷光源即LED燈)，反光鏡、孔徑光欄、視場光欄和聚光鏡組成照明系統;試樣臺、物鏡轉換器、接目鏡、粗調和微調手輪、視場光欄和孔徑光欄構成機械系統。新型的金相顯微鏡還具備瞬時高清抓拍和圖像處理功能，金相顯微鏡跟一般顯微鏡成像的原理是大致相同。體視顯微鏡的廣泛應用；金像顯微鏡加裝

典型的共焦顯微鏡裝置是在被測對象焦平面的共軛面上放置兩個小孔，其中一個放在光源前面，另一個放在探測器前面，如圖1所示。由圖可知，當被測樣品處于準焦平面時，探測端收集到的光強比較大；當被測樣品處于離焦位置時，探測端的光斑發生彌散，光強迅速減小。因此，只有焦平面上的點所發出的光才能透過出射針（zhen）孔，而焦平面以外的點所發出的光線在出射針（zhen）孔平面是離焦的，絕大部分無法通過中心的針（zhen）孔。因此，焦平面上的觀察目標點呈現亮色，而非觀察點則作為背景呈現黑色，反差增加，圖像清晰。在成像過程中，兩針（zhen）孔共焦，共焦點為被探測點，被探測點所在的平面為共焦平面。金像顯微鏡加裝正確使用金相顯微鏡的方法；

透射電子顯微鏡、掃描電子顯微鏡、掃描隧道顯微鏡和原子力顯微鏡是各個高科技領域經常運用的四種顯微鏡。英文名分別是Transmission Electron Microscope（TEM），Scanning Electron Mcroscope(SEM)、Scanning Tunneling Microscope（STM）和Atomic Force Microscope(AFM)。從名字中很容易知道四個顯微鏡的特點，其中TEM和SEM用的是電子來替代光，從而確定觀測樣品結構，而STM和AFM其實用的都是探針。所以可以認為亞顯微級顯微鏡（這個名字主要是區別開光學顯微鏡，用來說明其分辨率遠高于用可見光觀測）可以分為兩大類，即電子顯微鏡類別和探針顯微鏡類別。

掃描透射電子顯微鏡 (STEM) 基本原理

場發射電子槍激發的電子束經過復雜的聚光系統后被匯聚成為原子尺度的電子束斑，作為高度聚焦的電子探針，在掃描線圈的控制下對樣品進行逐點光柵掃描。STEM成像不同于平行電子束的TEM，其利用聚集的電子束在樣品上掃描。與SEM不同之處在于探測器置于試樣下方，探測器接收透射電子束流或彈性散射電子束流，經放大后在熒光屏上顯示出明場像和暗場像。各種成像模式收集散射信號的接收角度不同，因此可獲取同一位置的不同圖像，從而反應材料的不同信息，有環形明場像（ABF）、環形暗場像（ADF）、高角環形暗場像（HAADF）。激光共焦掃描顯微鏡是點成像。

共聚焦顯微鏡是由顯微鏡光學系統、激光光源、掃描器及檢測及處理系統4部分組成，采用相干性較好的激光作為光源，在傳統光學顯微鏡基礎上采用共軛聚焦原理和裝置，并利用計算機對圖象進行處理的一套觀察、分析和輸出系統。激光掃描束通過光柵針（zhen）孔形成點光源，經過分光鏡反射至物鏡，聚焦在在標本上并進行掃描。樣品受到激發后，發出的熒光回到分光鏡聚集到探測針（zhen）孔，之后經過光電倍增管轉化為電信號傳輸到計算機上顯示為清晰的焦平面圖像。激發光通過光柵針（zhen）孔聚焦在樣品上，熒光通過物鏡聚焦在針（zhen）孔上，此過程中形成兩次聚焦，故被稱為共聚焦顯微鏡。

主要應用于：生物學領域、高分子化學領域、表面粗糙度領域。掃描隧道顯微鏡(STM)和原子力顯微鏡(AFM)是比較常用的兩類掃描探針顯微鏡。雙光路顯微鏡供應

顯微鏡的幾種觀察方式；金像顯微鏡加裝

體視顯微鏡和光學顯微鏡的區別

體視顯微鏡是利用雙通道光路，為左右兩眼提供一個具有立體感的圖像。它實質上是兩個單鏡筒顯微鏡并列放置；光學顯微鏡是利用光學原理，把人眼所不能分辨的微小物體放大成像，以供人們提取微細結構信息的光學儀器。體視顯微鏡其光學結構與普通光學顯微鏡不同，體視顯微鏡的成像具有三維立體感的；而普通光學顯微鏡的成像不具有三維立體感。體視顯微鏡被廣泛應用在工業上更重要的特點是因為其立體感強，成像清晰和寬闊，又具有長工作距離，并是適用范圍非常廣的常規顯微鏡，操作方便，直觀，檢定效率高；光學顯微鏡在地質學等理工科專業中有重要應用。金像顯微鏡加裝

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